X-200 XRF是SciAps諸多型號中性能與價格比極高的一款產品。它使用了性能 一流的SDD探測器,高度優(yōu)化的X射線管和探測器之間的幾何結構,同時改進了散 熱性、減輕了重量,提高耐用性。在Android操作系統上運行WiFi和軟件,輕松 實現智能手機的高速度、連接性和數據管理。
產品特點:
重量輕,1.4Kg(含電池);
全新散熱設計,可在高達43℃以上環(huán)境溫度連續(xù)工作;
改進的內部電路設計;
全新外殼設計和金屬部件升級;
最新的軟件界面和校準;
規(guī)格說明
顯示屏 | 4.5英寸彩色觸摸屏,智能手機式顯示屏-PowerVR SGX540 3D圖形 |
樣品監(jiān)測 | 內部攝像頭,用于在分析前和分析期間查看樣品,以便正確對準樣品。微距相機,用于掃描二維碼或條形碼以及照片文檔和報告生成。 |
通訊/數據傳輸 | Wi-Fi、藍牙、USB 可連接到大多數設備,包括SciAps Profile Builder PC 軟件。提供SciAps云數據管理選項 |
激發(fā)源 | 6-40kV,200uA銠靶用于合金分析,6-50kV,200金靶用于其他大多數應用 |
探測器 | 25mm2硅漂移探測器(有源區(qū)),135eV分辨率 FWHM,5.95Mn K-α線。 |
Ⅹ射線濾光片 | 用于光束優(yōu)化的x6濾光片濾光輪 |
處理器 | ARM Cortex -A9 雙核/1.2GHz 內存:1GB DDR2 RAM,1GB NAND |
脈沖處理器 | 14 位數模轉換,80MSPS采樣率,8K 通道 MCA,USB2.0高速數據傳輸至主處理器;FPGA應用數字濾波用于高吞吐量脈沖處理(50nS-24uS峰值時間) |
校準方法 | 基本參數、康普頓歸一化和/或康普頓歸一化用于合金分析。地球化學、環(huán)境和土壤校準 |
校準檢查 | 內部部316不銹鋼標準樣品,用于校準驗證和能量標度驗證 |
使用環(huán)境溫度范囤 | 1-12 2C - 55 'C |
安全 | 密碼保護使用(用戶級別)和內部設置(管理員) |
規(guī)范 | CE, RoHS, USFDA認證,符合加拿大RED Act. |
應用場景
1.合金:快速測試各種合金,SciAps X-200是廢舊金屬加工過程中 無損分析及生產質量控制的絕 佳選擇。
2.地球化學/土壤:適用于環(huán)境、探索者、勘探和 采礦行業(yè),堪比工業(yè)級別的分 析精度、檢出限和測試元素范 圍。儀器可使用工廠的基本參 數法校準,康普頓歸一化 (EPA 方法 6200)校準或用 戶定義的導數校準。
3.RoHS:快速、精確分析Pb,Hg,Cd,Br 和Cr以及其他受限材料和無 鹵素要求。三種光束條件下 測試,可優(yōu)化全部元素的 LOD,自動樣品類型識別(聚 合物、合金或混合類型)。